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光誘導力顯微鏡基于原子力顯微鏡平臺,通過外置激光以一定的頻率激發在探針和樣品上,探針和樣品因此受到誘導偶極。AFM探針可以通過頻率調制獲得樣品內部的電子能級變化,振動能級及轉動能級變化。再將頻率調制后得到的結果進行傅立葉變化,以獲得相應的紫外可見吸收光譜或紅外光譜。得益于探針的曲率半徑,其光譜的空間分辨率最大可達10nm。PiFM也能和拉曼光譜進行聯用,并具備散射式掃描近場光學顯微鏡功能。


原子力顯微鏡-散射式掃描近場光學顯微鏡-紫外可見吸收光譜-紅外光譜-拉曼光譜聯用系統

光誘導力顯微鏡Photo-induced Force Microscopy,同時獲得形貌以及光誘導力圖像
Nano-UV & Vis,最高10nm空間分辨紫外可見吸收光譜/分光光度計
Nano-IR,最高10nm空間分辨的紅外光譜
Nano Hyperspectral Imaging,納米空間分辨的高光譜(連續波段,高光譜分辨率)
s-SNOM,散射式掃描近場光學顯微鏡
Nano-Raman/TERS,最高10nm空間分辨的針尖拉曼光譜
正置與倒置光路一體式設計,適合透明與不透明樣品
支持多種反饋方式,AFM激光反饋(OBD,AFM音叉反饋(TF
支持紫外、可見、紅外、太赫茲波段測試
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