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  自2007年美國FEI公司發布第一代Phenom(飛納)臺式掃描電鏡以來,Phenom(飛納)因其卓越的圖像質量、30秒超快成像速度、簡單易用的操作界面以及接近光學顯微鏡的超值價格,成為諸多科學家及工業研究人員的首選顯微成像工具。
  2009年,為了進一步促進Phenom(飛納)臺式掃描電鏡的研發,FEI公司與國際知名的NTS-Group公司、Sioux嵌入式系統公司合作,成立Phenom-World B.V.公司,專門從事新一代Phenom(飛納)的研發生產。
  現在,Phenom-World B.V.向您隆重介紹第二代Phenom(飛納)臺式掃描電鏡:Phenom G2和電鏡能譜一體化的Phenom proX。
  Phenom(飛納) G2和proX采用全新的硬件及軟件架構,在繼承了前代快速成像、簡單易用等優點的同時,為您提供更加卓越的圖像質量和精確的元素分析功能。


產品優勢:
   
       表面細節豐富的高質量圖片:由電鏡互相匹配的參數決定
 
只有2.5ev逸出功的CeB6燈絲,高亮度長壽命低色差
5kV電壓,低穿透深度,表面細節豐富
背散射電子反映成分和形貌信息
高低工作距離供用戶在分辨率和景深之間選擇
 
     真正意義上的使用簡便
 
低真空技術使得不導電樣品也無需噴金
電子和光學導航畫面,點到哪里看到那里
維護簡便
 
     30秒快速成像
 
專利真空技術和樣品杯技術
 
    對環境要求低,對震動免疫
 
          遠程檢測,隨時為你排憂解難


高品質大景深圖像(對比圖):
    



應用圖片:










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